AFM се отнася до Atomic Force Microscope, а STM се отнася до сканиращ тунелен микроскоп. Развитието на тези два микроскопа се счита за революция в атомното и молекулярното поле.

Когато говорим за AFM, той улавя прецизни изображения, като премества накрайник с размер на нанометър по повърхността на изображението. STM заснема изображения с помощта на квантово тунелиране.

От двата микроскопа първият разработен сканиращ тунелен микроскоп.

За разлика от STM, сондата осъществява директен контакт с повърхността или изчислява началното химично свързване в AFM. STM изображенията индиректно чрез изчисляване на квантовата степен тунелиране между сондата и пробата.

Друга разлика, която може да се види, е, че върхът в AFM докосва повърхността леко докосва повърхността, докато в STM, върхът се държи на малко разстояние от повърхността.

За разлика от STM, AFM не измерва тока на тунелиране, а измерва само малката сила между повърхността и върха.

Вижда се също, че разделителната способност на AFM е по-добра от STM. Ето защо AFM се използва широко в нанотехнологиите. Когато говорим за зависимостта между сила и разстояние, AFM е по-сложен от STM.

Когато сканиращият тунелен микроскоп обикновено е приложим за проводници, микроскопът за атомна сила е приложим както за проводници, така и за изолатори. AFM е подходящ за течни и газови среди, докато STM работи само във висок вакуум.

В сравнение със STM, AFM дава по-топографско контрастно пряко измерване на височината и по-добри характеристики на повърхността.

резюме

1. AFM улавя прецизни изображения, като движи накрайник с размер на нанометър по повърхността на изображението. STM заснема изображения с помощта на квантово тунелиране.

2. Сондата осъществява директен контакт с повърхността или изчислява началната химична връзка в AFM. STM изображенията индиректно чрез изчисляване на квантовата степен тунелиране между сондата и пробата.

3. Върхът в AFM докосва повърхността леко докосва повърхността, докато в STM, върхът се държи на малко разстояние от повърхността.

4. Разделителната способност на AFM е по-добра от STM. Ето защо AFM се използва широко в нанотехнологиите.

5. Когато сканиращият тунелен микроскоп обикновено е приложим за проводници, микроскопът за атомна сила е приложим както за проводници, така и за изолатори.

6. AFM е подходящ за течни и газови среди, докато STM работи само във висок вакуум.

7. От двата микроскопа първият разработен сканиращ тунелен микроскоп.

Препратки